掃描電鏡能夠觀察到的材料表面形態是極其豐富和細致的。以下是對SEM掃描電鏡觀察到的材料表面形態的詳細描述：

一、基本形態觀察

掃描電鏡通過聚焦的高能電子束對樣品進行掃描，激發出二次電子等信號，這些信號被接收、放大并顯示成像，從而得到樣品表面的清晰組織形貌。因此，SEM掃描電鏡能夠觀察到材料表面的基本形態，如顆粒大小、形狀、分布以及表面的粗糙度等。

二、立體感與景深

掃描電鏡具有較大的景深，使得所得到的掃描電子圖像立體感強，并具有三維形態的特征。這種立體感使得觀察者能夠更真實地感受到材料表面的微小起伏和細節結構。

三、細節呈現

SEM掃描電鏡的分辨率高，能夠觀察到材料表面的微小細節。例如，在金屬材料的斷口分析中，掃描電鏡能夠清晰地呈現出裂紋的擴展路徑、斷口的形貌特征以及材料的微觀組織結構等。此外，SEM掃描電鏡還能夠觀察到復合材料中不同組分之間的界面結構、孔隙分布等。

四、元素與成分分析

除了觀察表面形態外，掃描電鏡通常還配備有能譜儀（EDS）等附件，可以對樣品進行元素分析。通過分析樣品表面的元素組成，可以了解材料的成分和化學性質。這種元素分析能力使得SEM掃描電鏡在材料科學、地質勘探等領域具有廣泛的應用價值。

五、動態觀察

掃描電鏡還能夠進行動態觀察。在樣品室內裝有加熱、冷卻、彎曲、拉伸和離子刻蝕等附件的情況下，可以通過投影裝置觀察相變、斷裂等動態的變化過程。這種動態觀察能力使得SEM掃描電鏡在材料科學研究、產品質量檢測及工藝控制等領域具有獨特的優勢。

六、特殊形貌觀察

掃描電鏡還能夠觀察到一些特殊的材料表面形貌。例如，在觀察納米材料時，SEM掃描電鏡能夠清晰地呈現出納米顆粒的形貌、尺寸以及分布等特征。此外，掃描電鏡還能夠觀察到生物樣品的表面結構和形貌，如細胞、組織、骨骼等的微觀形態和結構特征。

綜上所述，SEM掃描電鏡能夠觀察到的材料表面形態是極其豐富和細致的。它不僅能夠提供材料表面的基本形態信息，還能夠進行元素分析、動態觀察以及特殊形貌觀察等。因此，掃描電鏡在材料科學、生物學、醫學、地質勘探等多個領域都具有廣泛的應用價值。