掃描電鏡的全稱是掃描電子顯微鏡，它可以用來觀察被檢測物體的細微之處、成像，這一點和顯微鏡有相似之處。sem掃描電鏡是通過電子束掃描被檢測物品的表面進而產生被檢測物品表面的圖像。

掃描電鏡有一個電子發射槍，從槍中會發射出加速、聚焦過的電子，在用這些電子來撞擊樣品。樣品在受到撞擊后會產生如同水波一般的信號，另一個接收器會用來接收這些信號。這些信號有許多不同的種類，不同的信號有不同的用途，可以對樣品多個方面的表現進行檢測。因此，SEM掃描電鏡除了可以成像外，還可以用來分析樣品的成分形貌，對樣品的元素進行分析。

掃描電鏡的分辨率比顯微鏡的分辨率高得多，能夠將物品放大20萬倍。SEM掃描電鏡的視野廣闊，其形成的圖像有很強的立體感，可以觀察到凹凸不平的細微結構。

目前研制出的掃描電鏡種類有很多，按照結構和用途進行劃分的話大概有6種，其中包括常見的典型sem掃描電鏡、還有掃描透射電鏡、場發射掃描電鏡、冷凍掃描電鏡、掃描隧道電鏡、原子力顯微鏡等。

隨著科技的不斷發展，掃描電鏡的研制技術也在不斷進步，越來越多的人了解到掃描電鏡，其已經從高等級的研究發展變成了被廣泛使用的測試手段，應用范圍涉及到各行各業，其中包括生命科學、材料科學、食品科學、化學、電子學等學科，還運用到了陶瓷行業、化工行業、半導體行業等生產部門。