掃描電鏡和透射電鏡是常用的兩種顯微鏡，它們分別采用不同的原理和應用于不同的場景中。

掃描電鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）利用電子束與樣本表面的相互作用產生的信號來形成圖像。它通過掃描電子束在樣本表面上的移動，檢測到由反射、散射以及二次電子排出所產生的信號，并通過電子光學系統轉換成圖像。掃描電鏡適用于觀察樣本表面的形貌特征，可以提供高分辨率的表面形貌圖像。它在材料科學、生物學、納米技術等領域有著廣泛的應用。

透射電鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）則是利用電子束穿過樣本內部的原理來形成圖像。樣本被制備成非常薄的切片，并置于電子束的傳輸區域，從而使電子束透過樣本，形成投射圖像。透射電鏡具有很高的分辨率，在觀察材料晶體結構、原子排列等方面具有非常重要的作用。它廣泛應用于材料科學、凝聚態物理學、生命科學等領域中。

掃描電鏡和透射電鏡的主要區別在于其工作原理和應用場景不同。掃描電鏡適用于觀察物體表面形貌特征，可以提供高分辨率的表面圖像；而透射電鏡主要用于觀察樣本內部的結構和原子排列等，可以提供高分辨率的截面圖像。兩者在不同的科學領域和應用中各有優勢，對于理解和研究微觀世界起著重要作用。

掃描電鏡和透射電鏡是兩種常用的顯微鏡，它們的工作原理和應用場景有著明顯不同。這兩種顯微鏡在科學研究中都發揮著重要的作用，為我們揭示微觀世界的奧秘。